Главная Бухгалтерия в кармане Учет расходов Экономия на кадровиках Налог на прибыль Как увеличить активы Основные средства
Главная ->  Прохождение невидимых тепловых лучей 

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 [ 109 ] 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132

Основные параметры электрооптических материалов

Название материала

Электрооптические постоянные, м/В

Коэффициент преломления

Диэлектрическая постоянная, Е

Тангенс угла диэлектрических потерь, (tg6)

Напряжение полуволнового смещения, кВ

Тетрагональная структура материала

Дигидрофосфат калия кн2ро4 (KDP)

1,468

20,2

0,0005(при 0,1 ГГц)

Дигидрофосфат аммония nh4h2poi, (ADP)

24,5

1,469

14,0

0,025 (при 36 ГГц)

Дидейтерофосфат калня kd2po4 (DKDP)

26,4

1,470

0,025 (при 10 ГГц)

Дигидроарсенат калия kh2aso4 (KDA)

12,5

10,9

1,520

0,0075 (при ЮГГц)

Дигидроарсенат рубидия НЬНгАзО* (RD.A)

13,0

1,520

0,003 (при 10 ГГц)

Кубическая структура

Хлористая медь CuCI

1,6...1,8

1,933

0,001 (при 5 ГГц)

Селенистый цинк ZnSe

2,0...2,1

2,364

12,5

0,002 (при 5 ГГц)

12,4

Селенистый цинк ZnSe .

2,660

8,1...91

Уротропин (CH2)en4

1,591

14,9

Гекеамин

0,003 (при 1 ГГц)

Окись цинка ZnO

2,0...2,12

8,15

Сернистый цинк ZnS

1.2...2,1

2,709

16.0

Теллуристый цинк ZnTe

3,95...4,3

2,91...3,1

10,1

Бромистая медь CuBr

0,85

Фосфид галлия GaP

10...12

Арсенид галлия GaAs

1,3...1,5

3.3...3,6

10,9...12,5

Сернистый кадмий CdS

2,73

7,7...7,8



Рис. 7.5. График зависимости удельного сопротивления кристалла ADP от температуры.

Рис. 7.6. Спектральная характеристика пропускания кристалла ADP.

Рве. 7.7. Форма кристаллов ADP и KDP н направления кристаллографических осей.

ji,om/l

г-ю

е-10 г-10

10 610

2-10

20 40 60 80 i;c

Рис. 7.0


О 0 0,6 1,0 к,тм


Рис. 7.6.

Рис. 7.7

В кристаллах, выращиваемых при высокой температуре. Размеры выращиваемых кристаллов доходят до 50 мм в любых направлениях. Несмотря на то. что кристаллы растворимы в воде и хрупки, их обработка несложна.

В соединении KHaPOi атомы К, Н а Р могут без изменения кристаллической структуры замещаться элементами соответствующих групп периодической таблицы элементов. Так, получаются изоморфные кристаллы KDjPOa (DKDP), KH2ASO4 (KDA), PbHaAsO, (RDA).

Из кристаллов кубической структуры в амплитудных модуляторах можно применять гексамин, цинковую обманку ZnS, окись цинка ZnO, хлорид CuCl и бромид CuBr меди и др. Хлорид и бромид меди разрушаются под воздействием влажного воздуха. Другие материалы не требуют специальных покрытий и могут работать в обычной атмосфере. При использовании этих кристаллов внешнее электрическое поле может быть направлено перпендикулярно направлению оптического излучения. В этом случае электроды могут быть выполнены из непрозрачного материала, что значительно удобнее в конструктивном отношении по сравнению с полупрозрачными электродами или электродами, имеющими отверстия для пропускания светового луча. Кроме того, можно снизить величину модулирующего напряжения, так как при Использовании кристаллов класса Td и ориентации вектора напряжен-



лости электрического поля перпендикулярно направлению оптического излучения напряжение полуволнового смещения определяется формулой

t/V2 = 4---. (7-8)

/ ng ,-41

в то время, как при использовании кристаллов класса D2d и ориентации вектора напряженности электрического поЛя параллельно направлению оптического излучения

t/V2=-3. (7.9)

Щ res

так как d = I.

Из табл. 7.4 видно, что величина напряжения полуволнового смещения для большинства вгществ имеет порядок нескольких киловольт; для кристаллов класса Td эту величину можно уменьшить, увеличив размер / кристалла вдоль направления излучения.

Тонкие и длинные срезы электрооптических кристаллов получить очень сложно, поэтому для создания модуляторов с поперечной геометрией используют электрооптический эффект в р-п переходе полупроводникового диода.

Толщина р-п перехода не превышает 10 ... 15 мкм, поэтому, несмотря на небольшие размеры диода, отношение l/d достигает большой величины, что позволяет снизить амплитуду модулирующего напряжения на 2-3 порядка.

В полупроводниковом диоде р-п переход при отсутствии электриче--ского поля является оптически изотропной средой, а при наличии поля анизотропной средой. Этот эффект может быть использован для модуляции оптического излучения по схеме, изображенной на рис. 7.8. Полупроводниковый диод 3 помещен между скрешенными поляризатором 2 и анализатором 5. Так как толщина переходного слоя незначительна, излучение необходимо сфокусировать в центр диода. Напряженность управляющего поля в переходном слое зависит от величины приложенного к диоду смещения. Диод включен так, что напряжение смещения и управляющее напряжение направлены встречно. Это позволяет осуществлять модуляцию излучения при малых значениях тока, проходящего через диод.

Экспериментальными исследованиями установлено, что зависимость напряженности электрического поля Em в р-п переходе от напряжения [/щ. приложенного к диоду, для фосфида галлия имеет вид [13]:

Еш = 4,31 . 10В (153 и^)2,з, Фаза светового луча на выходе модулятора

Ф = (1.53 - UmV. Лмплитудная характеристика связана с фазовой соотношением

/ = /о sin (ф/2).

Большое распространение в амплитудных модуляторах получил арсе-нид галлия, который выращивают из элементарных галлия и мышьяка в горизонтальной печи. Кристаллы GaAs не гигроскопичны, имеют высокую теплопроводность, легко режутся и полируются с точностью до 1/10 длины волны видимого света; при этом заметные напряжения не возникают. Так как кристаллы нерастворимы в воде и диссоциируют при темпе-Рис. 7.8. Схема амплитудного модулятора, не- ратуре 800° С, никаких Мер за-

пользую1дего электрооптический эффект в р-п щиты ОТ воздействия ОКружаЮ-

пГ;п^1,н' щей температуры и влажности

5 - анализатор принимать не нужно.

3 /



1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 [ 109 ] 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132

© 2024 Constanta-Kazan.ru
Тел: 8(843)265-47-53, 8(843)265-47-52, Факс: 8(843)211-02-95