Рис. 4.50. Спектральные коэффициенты пропускания фильтров! I - германий (просветленный) толщиной 1 мм; 2 - кремний толщиной 5 мм (25° С); 3- германий толщиной 1 мм (обе поверхности отполированы).

Рис. 51. Спектральные коэффициенты пропускания коротковолновых фильтров из окрашенной пластмассы.

Рис. 4.52. Спектральные коэффициенты пропускания интерференционных фильтров.

Рис. 4.53. Спектральные коэффициенты пропускания интерференционных фильтров фирмы Бауш и Ломб ; /.- длинноволновый фильтр >,гр=1,3 мкм; 2 - полосовой фильтр Я,о=-=2,48 мкм; 3 - полосовой фильтр ? )=4,02 мкм; 4 - длинноволновый фильтр Ягр=3.4 мкм.

Рис. 4.54. Спектральные коэффициенты пропускания интерференционных фильтров фирмы Истмеи Кодак ; 7 -?.гр=1 мкм; 2 -?.гр=2 мкм; 3 - Яо=2,7 мкм; 4 - Ягр-З мкм; 5 - Ло=4,5 мкм.

Рис. 4.55. Спектральные коэффициенты отражения черного зеркала с различными тража1ельными пленками: / - стеклянная основа; 2 - непрозрачное алюминиевое покрытие; 3 -SiO; 4 - полупрозрачное алюминиевое покрытие; 5 -германий.

ч

0,8 0.8 ¥

О/ О

12 3 4 5 6 7 вХ,тн

Рис. 4.50

8,4 В,Б 0,8 l,Bh,MHM Рис. 4.51

ч

0,8 0.8

¥

о.г

в

ч

0,8 0.6 0.4

О.г

в I г J 4 }.,тн

Рис. 4.54

Ц1 /JJ 0,5 1 Z 4 >.,HHIf Рис. 4.55

Коэффициенты пропускания т, коротковолновых фильтров, изготовляемых отечественной промышленностью

Я, мкм

при толщине, мм

0,40 0,45 0,50 0,55 0,60 0,65 0,70 0,75 0,80 0,85 0,90 0,95 1,00 1,50 2,10 2,70 3,00

Таблица 4.7

Коэффициенты пропускания Tj теплозащитных фильтров, изготовляемых отечественной промышленностью

Длинноволновое излучение может быть срезано с помощью поглощающих фильтров из кварца, сапфира и некоторых марок стекол. Полосовые фильтры чаще всего выполняют в виде многослойных интерференционных фильтров, кварцевых рассеивающих фильтров или стекол, покрытых растворами цветной пластмассы [Ц. В табл. 4.6 и 4.7 даны коэффициенты пропускания некоторых фильтров,-выпускаемых отечественной промышленностью.

4.5. ПРОХОЖДЕНИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ ЧЕРЕЗ КРИСТАЛЛЫ

Особенностью кристаллической среды является различие в величинах показателя преломления для разных направлений в кристалле, так называемая анизотропия. Оптически свойства кристаллической среды характеризуют тремя показателями преломления Пх, Пу и и^. Если отложить по осям симметрии монокристалла отрезки, численно равные показателям преломления, то геометрическое место концов этих отрезков образует поверхность второго порядка, называемую оптической индикатрисой.

Для анизотропной среды оптическая индикатриса представляет эллипсоид, описываемый уравнением

(*;,г„)2 + (yinyf + (zlnY = 1. (4.39)

Оптически изотропная среда характеризуется одним показателем преломления Па - Пх= Пу= tiz. В этом случае эллипсоид показателей преломления вырождается в шар, а оптические свойства среды не зависят от направления луча. Линия, перпендикулярная к круговому сечению показателей преломления, называется оптической осью кристалла.

У многих кристаллов эллипсоид показателей преломления является эллипсоидом вращения; такие кристаллы характеризуют двумя показателями преломления и и называют одноосными; осью вращения эллип-

соида является кристаллографическая ось г. Плоскость, проходящая через направление луча, падающего на одноосный кристалл, и оптическую ось, проходящую через точку падения, называется главной осью кристалла.

При падении светового луча на одноосный кристалл возникает явление двойного лучепреломления, заключающееся в том, что на выходе из кристалла появляется два луча: один луч (называемый обыкновенным) распространяется без преломления и служит продолжением первичного луча, а второй (называемый необыкновенньш) преломляется. Оба луча поляризованы во взаимно перпендикулярных плоскостях (рис. 4.56). Напомним, что плоскостью поляризации называют плоскость, проходящую через направление луча и перпендикулярную плоскости световых колебаний.

Для света, распространяющегося в кристалле, характерно эллиптическое сечение индикатрисы, проходящее через центр эллипсоида перпендикулярно направлению распространения света. Так, на рис. 4.57 показан луч света SO, падающий на кристалл и эллиптическое сечение А BCD индикатрисы, перпендикулярное к лучу. Полуоси эллипса равны показателям преломления .кристалла для лучей, направления которых совпадают с направлениями по-, .луосей эллипса.

Одна из полуосей любого эллиптического сечения всегда равна радиусу кругового сечения. Это означает, что один луч (обыкновенный) из любой

пары лучей, образованных вследствие двойного лучепреломления, всегда имеет один и тот же пока- затель преломления щ = ОВ - ОЕ -

Щ,/Щ^и\ > 0D = OF (рис. 4.57). Показатель

преломления для второго (необык-

-новенного) луча может принимать

все значения от щ до Пе =~0С = = ОН в зависимости от направления

Рис. 4.56. Ход лучей в кристалле. ПадаЮщегО Луча.